2026 제33회 한국반도체학술대회 현장우수포스터상 수상
4월 15일
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2026년 1월 27일부터 1월 30일까지 강원도에서 개최된 2026 제33회 한국반도체학술대회의 Metrology, Inspection, Analysis, and Yield Enhancement 분과의 Poster Session에서 석박사통합과정 배준엽 학생과 이나경 학생이 'E-beam Generated Fast-Traps in MoS2 Transistors through Transient I-V Characterization'에 대하여 현장우수포스터상을 수상하였습니다.
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